Pengukur Ketebalan Wafer

Alat ukur ketebalan wafer WTM-576B digunakan untuk mengukur ketebalan wafer sebelum atau sesudah penghilangan lilin; Karena kerataan substrat keramik kurang dari 1um, maka ini juga dapat digunakan sebagai referensi yang baik saat mengukur wafer tunggal; WTM-576B memiliki kumpulan bingkai lain untuk pengukuran titik-ke-titik, yang dapat digunakan untuk pengukuran wafer TTV. Permukaan substrat keramik alat ukur yang dipoles memungkinkan wafer atau pelat keramik bergerak mulus di atas substrat tanpa menimbulkan goresan pada bagian belakang wafer. Pada saat yang sama, stabilitas dan ketahanan aus substrat keramik membuatnya stabil dan dapat diandalkan untuk waktu yang lama bahkan untuk pengukuran material super keras seperti safir dan wafer SiC.

Mengukur wafer di piring keramik

Mengukur wafer tunggal

Pengukur ketebalan wafer kontak titik

Pengukur ketebalan wafer kontak titik digunakan untuk mengukur ketebalan wafer, kontak titik ke titik wafer membuat hasil pengukuran lebih akurat karena menghindari kesalahan pengukuran yang disebabkan oleh kontak permukaan wafer dengan meja pengukur atau probe pengukur. Untuk melindungi wafer dari goresan atau kontaminasi ion logam yang disebabkan selama pengukuran, semua bagian kontak wafer dibuat dengan cara mengintip.

Pengukur ketebalan wafer TG-Tiga kaki

Pengukur ketebalan wafer seri TG digunakan untuk mengukur ketebalan wafer yang direkatkan pada pelat keramik, ringan, stabil, dan mudah digunakan, pengukur TG tersedia untuk mengukur berbagai ukuran wafer.

Tag populer: pengukur ketebalan wafer, produsen, pemasok, pabrik pengukur ketebalan wafer Cina